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帖子 ZEMAX軟件技術應用專題:如何為光學相干斷層掃描系統建模
軸向分辨率完全來光源特性,應在5μm的數量級上。 來樣品處光束半徑的橫向分辨率應為15μm。800 nm範圍內的光將用於避免組織中的高吸收,這會限制穿透。光源規格OCT將干涉測量技術與寬近紅外光結合使用。 較寬的寬可提供最佳分辨率,而波長選擇可確定樣品材料中的穿透深度。
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w**elab86_Swsp ??? 3年前
ZEMAX軟件技術應用專題:如何為光學相干斷層掃描系統建模
帖子 Zemax光學設計技術教程:如何使用Jones Matrix表面
將E和k分別以分量的形式入,我們可以得到下方的結果。任意兩種材料間的介面都可以使入射光產生偏極化的現象,而OpticStudio可以將這個結果完整的呈現。除此之外,OpticStudio也為一般的偏極化裝置提供了理想的模型。
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w**elab86_Swsp ??? 3年前
Zemax光學設計技術教程:如何使用Jones Matrix表面
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